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半絕緣電阻率通常介于1-1000歐姆·厘米之間，是描述半絕緣材料導電性能的關鍵參數(shù)。這種材料在電子工業(yè)中應用廣泛,，特別是在制造半導體器件、絕緣層和光電...

玻璃領域 半導體玻璃的電阻率及某些物理化學性質(zhì)在光,、電,、熱等作用下可發(fā)生顯著改變，從而賦予其的性能,。半導體玻璃已廣泛應用于光電倍增器,、存儲器件、電子開關等領域,。

氧化鎵電阻率方阻測試儀：Ga2O3是一種透明的氧化物半導體材料,，在光電子器件方面有廣闊的應用前景，被用作于Ga基半導體材料的絕緣層,，以及紫外線濾光片,。它還可以用...

碳化硅電阻率方阻測試儀：1,、電阻率ρ不僅和導體的材料有關，還和導體的溫度有關,。在溫度變化不大的范圍內(nèi)：幾乎所有金屬的電阻率隨溫度作線性變化,，即ρ=ρ0（1+at...

非接觸式單點薄層電阻測量系統(tǒng)。該裝置包含一個渦流傳感器組,，感應弱電流到導電薄膜和材料,。非接觸式薄膜方塊電阻測量儀試樣中的感應電流產(chǎn)生與測量對象的片電阻相關的電磁...

晶錠渦流法電阻率測試儀：電阻率是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。某種物質(zhì)所制成的原件(常溫下20°C)的電阻與橫截面積的乘積與長度的比值叫做這種物質(zhì)...

??渦流法方阻測試儀的方阻是指一個正方形?薄膜導電材料邊到邊的電阻?,，也稱為方塊電阻或?膜電阻,。方阻是衡量薄膜狀導電材料（如?蒸發(fā)鋁膜、?導電漆膜,、印制電路板銅...

渦流法?電阻率方阻是一種利用電磁感應原理進行檢測的方法,。當載有交變電流的試驗線圈靠近導體工件時，會產(chǎn)生交變磁場,，進而在工件中感生出密閉的環(huán)狀電流,，即渦流。渦流的...

設備主要利用渦電流測試原理,，非接觸測試半導體材料,，石墨烯，透明導電膜,，碳納米管,，金屬等材料的方阻（電阻率）?？蓪崿F(xiàn)單點測試,，亦可以實現(xiàn)面掃描的測試功能，可用于材...

渦流法電阻率測試儀的樣品尺寸：2“-8“或者16mm×16mm的方形樣品,；遷移率測量范圍：100-20000（cm2/v.sec),；方塊電阻測量范圍：...